El Tescan Magna es un microscopio electrónico de barrido de ultra-alta resolución con sistema de detección avanzado, fuente Schottky, óptica de inmersión TriLens™ y capacidad STEM-in-SEM para análisis detallado de nanomateriales y superficies complejas.
Disponibilidad: este equipo se comercializa en Centroamérica, Argentina y Uruguay.
El Tescan Magna es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de ultra-alta resolución diseñado para la caracterización avanzada de nanomateriales y superficies con máxima precisión. Equipado con la columna Triglav™ y la óptica de inmersión TriLens™, permite obtener imágenes de excepcional detalle incluso a bajas energías de haz, manteniendo la integridad de muestras sensibles o no conductoras.
El Magna incorpora un sistema de detección multicapa altamente sofisticado —TriBE™ para electrones retrodispersados y TriSE™ para electrones secundarios— que proporciona un control superior sobre el contraste y permite una diferenciación precisa entre morfología y composición. Su fuente Schottky de alta corriente (hasta 400 nA) lo convierte en una plataforma ideal para análisis microanalíticos integrados, como EDS y EBSD, sin comprometer la definición de la imagen.
El software Tescan Essence™ ofrece una experiencia de operación intuitiva, con automatización inteligente, flujos de trabajo configurables y herramientas de ajuste rápido del haz gracias a la tecnología In-Flight Beam Tracing™, que optimiza en tiempo real las condiciones de imagen y aceleración.
Una de sus capacidades más destacadas es la integración del modo STEM-in-SEM, que permite realizar análisis en transmisión dentro del mismo instrumento, ampliando el alcance analítico sin necesidad de migrar a plataformas adicionales.
El Tescan Magna es la solución elegida para laboratorios que requieren un SEM de próxima generación, capaz de combinar resolución sub-nanométrica, versatilidad analítica y máxima estabilidad para investigación e innovación avanzada.
Imágenes de ultra-alta resolución incluso a bajas energías de haz, ideales para materiales sensibles.
Sistema multicapa de detectores para contraste selectivo por composición y morfología.
Fuente Schottky de alta corriente que optimiza análisis EDS y EBSD con gran estabilidad.
Configuración automática del haz con tecnología In-Flight Beam Tracing™ para una operación más rápida y precisa.
Modo STEM-in-SEM integrado para análisis de transmisión dentro del mismo equipo.
Software Tescan Essence™ con interfaz intuitiva y flujos de trabajo optimizados.
Herramienta versátil para investigación avanzada en nanociencia, nuevos materiales, electrónica, metalurgia y ciencias de la vida.
Farmacia, ciencias de la vida y forense
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