El Tescan Tensor es un microscopio STEM diseñado para análisis 4D de alta resolución, con procesamiento de datos en tiempo real, precesión electrónica y caracterización estructural, cristalográfica y química integrada.
Disponibilidad: este equipo se comercializa en Centroamérica, Argentina y Uruguay.
El Tescan Tensor es un microscopio de transmisión por barrido (STEM) de última generación, diseñado específicamente para la caracterización avanzada en 4D-STEM. Permite obtener simultáneamente información estructural, cristalográfica y química a nanoescala, combinando la adquisición de patrones de difracción, espectros EDS y señales STEM en un mismo proceso de análisis.
Su arquitectura optimizada y su detector de electrones pixelado de alta velocidad facilitan la captura eficiente de grandes volúmenes de datos y su procesamiento prácticamente en tiempo real. La plataforma integrada de análisis permite extraer mapas de orientación, fase, deformación y densidad de defectos sin necesidad de complejas configuraciones manuales, lo que reduce significativamente los tiempos de trabajo y aumenta la productividad.
Incorpora además precesión electrónica (PED) para mejorar la precisión en la difracción y obtener resultados confiables en materiales sensibles como semiconductores, baterías, nanomateriales o metales ligeros. Gracias a sus modos configurables y mediciones automatizadas, el TENSOR puede ser utilizado tanto por expertos como por usuarios que se inician en STEM, ofreciendo un flujo de trabajo intuitivo y estable.
Su enfoque multimodal y su diseño centrado en la experiencia del usuario lo convierten en una plataforma ideal para laboratorios de investigación avanzada, centros científicos y entornos industriales orientados a innovación, control de calidad y análisis de fallas.
Caracterización multimodal completa: estructura, composición y cristalografía en una sola medición.
Adquisición 4D-STEM sincronizada con difracción y espectros EDS en cada punto del escaneo.
Procesamiento de datos en tiempo casi real, reduciendo tiempos de análisis y toma de decisiones.
Precesión electrónica (PED) para mayor precisión en mapas de fase, orientación y deformación.
Detector de electrones pixelado de alta velocidad, ideal para materiales sensibles y dinámicos.
Flujo de trabajo automatizado y mediciones preconfiguradas, perfecto para usuarios con distintos niveles de experiencia.
Optimizado para investigación y control de calidad en materiales avanzados, semiconductores, baterías, nanociencia y análisis de fallas.
Plataforma moderna y estable, diseñada para maximizar la productividad y la integración de datos.
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