El Tescan Mira con fuente de emisión de electrones Schottky FEG es un SEM analítico de alta resolución para
aplicaciones rutinarias de caracterización de materiales, investigación y control de calidad a escala submicrónica.
Permite la instalación de detectores SE y BSE opcionales en la columna, incluida la tecnología de desaceleración
del haz, para mejorar el rendimiento de imágenes a voltajes de aceleración bajos.
Disponibilidad: este equipo se comercializa en Centroamérica, Argentina y Uruguay.
El Tescan Mira es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de emisión de campo Schottky (FE-SEM) diseñado para ofrecer imágenes de alta resolución y capacidades analíticas avanzadas en un equipo versátil y confiable. Es una solución ideal para laboratorios de investigación, control de calidad industrial, análisis de fallas, ciencia de materiales, metalurgia, geociencias, biotecnología y electrónica avanzada.
Su columna FEG-SEM con fuente Schottky, junto con los detectores SE/BSE en columna y la tecnología de desaceleración del haz (Beam Deceleration Technology) opcionales, permite capturar detalles finos a bajo voltaje en polvos, nanopartículas y recubrimientos. El sistema de detección —que incluye detectores de electrones secundarios y retrodispersados— ofrece control sobre el contraste topográfico y composicional, permitiendo diferenciar fases, composiciones y estructuras con gran precisión.
Equipado con el software TESCAN Essence™, MIRA proporciona una interfaz unificada que integra SEM e instrumentos analíticos como EDS, WDS, EBSD, CL o Raman, facilitando un flujo de trabajo eficiente y reduciendo la necesidad de cambiar entre aplicaciones externas. La tecnología In-Flight Beam Tracing™ optimiza automáticamente los parámetros del haz y garantiza condiciones ideales de operación, acortando significativamente el tiempo de preparación del análisis.
El TESCAN MIRA también ofrece un sistema de navegación intuitiva Wide Field Optics™, que permite visualizar rápidamente áreas amplias de la muestra desde aumentos muy bajos, lo que facilita la orientación en superficies extensas y acelera la localización de regiones específicas para análisis detallados. Su cámara espaciosa y plataforma motorizada de múltiples ejes permiten la inspección de muestras grandes y heterogéneas.
Diseñado tanto para usuarios expertos como principiantes, el sistema incorpora el modelo de colisión 3D en tiempo real de Essence™ para proteger detectores y muestras, garantizando una operación segura y productiva.
El resultado es una plataforma robusta y moderna, enfocada en la productividad y la reproducibilidad, capaz de combinar imágenes SEM de alta calidad con análisis químico y estructural profundo.
Alta resolución para caracterización avanzada
Diseñado para aplicaciones rutinarias e investigación, permite una observación detallada de estructuras submicrométricas, ideal para control de calidad y desarrollo de materiales.
Excelente rendimiento a bajo voltaje
Gracias a su tecnología de desaceleración del haz y detectores integrados en la columna, ofrece imágenes nítidas incluso a bajos voltajes de aceleración.
Plataforma analítica modular y flexible
Se adapta a distintas necesidades mediante una amplia gama de detectores opcionales totalmente integrados, como CL, BSE refrigerado por agua y espectrómetro RAMAN.
Máxima versatilidad en análisis
Desde geología hasta ciencia de materiales o electrónica, su configuración personalizable permite abordar una gran variedad de aplicaciones analíticas con precisión.
Fuente Schottky FEG de alto rendimiento
Asegura una alta densidad de corriente, estabilidad del haz y una excelente calidad de imagen para tareas exigentes.
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