QSG 750-II

El QSG 750-II de OBLF comparte la óptica al vacío de 750 mm del QSN 750-II, pero registra cada chispa por separado con la tecnología GISS (Gated Integration of Single Sparks) desarrollada por el fabricante. Esta espectroscopía resuelta en el tiempo aporta información sobre la composición microscópica de la muestra: detecta muestras no homogéneas, distingue componentes disueltos de no disueltos (por ejemplo, aluminio en acero) y determina inclusiones, además de reducir interferencias espectrales y mejorar los límites de detección en el análisis de metales puros.

Características

• Óptica Paschen-Runge con círculo de Rowland de 750 mm y rango de 110 a 770 nm, estabilizada a ± 0,1 °C.
• Hasta 64 canales de elementos con fotomultiplicadores y conversión A/D de 23 bits por canal.
• Software OBLFwin con editor de fórmulas GISS, evaluación gráfica de chispas individuales y cálculo de inclusiones en línea.
• Operación manual o automatizada, con robot de manipulación y limpieza del contraelectrodo.
• Opcional: sistema de doble electrodo con ULB (Use of Light Breaks), que lleva el tiempo total de análisis a menos de 20 s.
• Dimensiones de 104 × 130 × 90 cm (ancho × alto × profundidad) y peso aproximado de 460 kg.

• Acerías y otras plantas de fundición primaria.
• Empresas de procesamiento de metales.
• Institutos de investigación y universidades.
• Análisis de inclusiones y de metales puros.