Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X de longuitud de onda (WD-XRF)

Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X de longuitud de onda (WD-XRF)

  • Rendimiento analítico mejorado.
  • Mejoras de potencia de 1 a 2.4, 3 o 4 kW para una sensibilidad mejorada.
  • Gama de materiales anódicos para tubos de rayos X Rh, Cr, Mo y Au para un rendimiento de aplicación específico.
  • Detector dúplex para una mayor sensibilidad y un rango dinámico más amplio para el análisis de metales de transición.
  • Detector de centelleo HiPer para mayor rango dinámico para elementos pesados ​​(lineal hasta 3.5 Mcps) ideal para análisis de alta precisión de Nb y Mo en aceros.
  • Análisis secuencial de cal libre y XRF con el núcleo THETA.
  • Experiencia de usuario superior.
  • Software simple e intuitivo con The Virtual Analyst.
  • Conjunto completo de módulos de configuración de aplicaciones y soluciones de software Análisis XRF sin estándares líder en la industria con Omnian: análisis de incógnitas o cuando los estándares no están disponibles.
  • Análisis de puntos pequeños de múltiples elementos con mapeo.
  • Máscaras de colimador programables para tamaños de muestra entre 6 mm y 37 mm.
  • Tecnología SumXcore: tiempos de medición reducidos hasta en un 50% con un núcleo ED.
  • Actualizaciones de potencia de 1 a 2.4, 3 o 4 kW para tiempos de análisis más rápidos.
  • Canales Hi-Per para la medición simultánea de elementos ligeros. Cambiador de muestras de alta capacidad (hasta 209 posiciones) para aplicaciones de alto rendimiento. El dispositivo de eliminación de polvo minimiza la contaminación y maximiza el tiempo de actividad del instrumento.
  • Revestimiento de ventana de tubo de rayos X CHI-BLUE para una mayor durabilidad del tubo de rayos X y resistencia a la corrosión.
  • Excelencia elemental.
  • La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es capaz de realizar análisis elementales de una amplia gama de materiales, incluidos sólidos, líquidos y polvos sueltos.
  • Diseñado para cumplir con las aplicaciones más exigentes de control de procesos e I + D, el espectrómetro Zetium XRF lidera el mercado en diseño de alta calidad y características innovadoras para análisis de sub-ppm a porcentaje de Be to Am.
  • Basándose en años de experiencia y éxito con nuestra amplia cartera de rayos X analíticos, Zetium representa un paso revolucionario en el análisis de materiales.
  • La plataforma incorpora la tecnología SumXcore, una integración de WDXRF, EDXRF y XRD. Esta combinación única de posibilidades coloca a Zetium en una clase propia con respecto a la potencia analítica, la velocidad y la flexibilidad de tareas en múltiples entornos.
  • El Zetium está equipado con la última versión de nuestro software SuperQ, incluido nuestro Virtual Analyst que permite incluso a usuarios no expertos configurar fácilmente aplicaciones. Se encuentra disponible una amplia gama de módulos de software adicionales para análisis específicos, como análisis sin estándares, elementos traza en geología, correcciones de matriz en aceites y análisis de películas delgadas.
  • Se ofrecen ediciones dedicadas de la industria del espectrómetro Zetium XRF para industrias específicas: cemento, minerales, metales, petroquímicos y polímeros y plásticos.
  • La configuración de la edición Ultimate cumple con los requisitos más exigentes independientemente de la industria.
  • El diseño modular de la plataforma Zetium permite mejoras de rendimiento orientadas a tareas a través de varios paquetes.
  • Malvern Panalytical ofrece una gama de soluciones de integración; desde una interfaz simple con equipo de preparación de muestras, hasta proyectos de automatización completa que integran varios instrumentos analíticos en un solo laboratorio de contenedores.
  • Petroquímicos.
  • Polímeros.
  • Minería.
  • Metales.
  • Alimentos.
  • Medio ambiente.

Brochure Zetium