Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X de Energía Dispersiva (ED-XRF)

Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones.
Ventana lateral de metal-cerámica para una máxima estabilidad.
Detector de deriva de silicio de alta resolución (SDD). típicamente 135 eV @ Mn-Kα Scaneo elemental con solución de análisis sin estándares Omnian.
El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2 pulgadas) de diámetro.
Ventana de berilio delgada de 50 micrómetros para alta sensibilidad para elementos ligeros (Na, Mg, Al, Si).
Tasa máxima de conteo de 1,500,000 conteos / sa 50% de tiempo muerto Análisis PASA / FALLA con la solución FingerPrint.
Spinner se incluye para una mejor precisión del análisis del filtro de aire.
Tubo de rayos X de ánodo Ag para el mejor rendimiento del análisis P, S y Cl Ventana del detector de entrada delgada para alta seguridad Seguridad de datos mejorada para entornos regulados.
Modo de muestra grande para analizar muestras más grandes de hasta 10 cm de altura.
Stratos para muestras multicapa.
Una calibración flexible para el desgaste de metales en aceites lubricantes frescos y usados utilizando Oil-Trace.

Análisis elemental en línea rápido y preciso.
Basado en la experiencia y el éxito de la probada gama de espectrómetros XRF Epsilon 3, el Epsilon 4 es un analizador XRF de sobremesa multifuncional para cualquier segmento de la industria que necesite análisis elemental desde flúor (F) hasta americio (Am) en áreas desde I + D hasta control de procesos.
Combinando las últimas tecnologías de excitación y detección con software maduro y diseño inteligente, el rendimiento analítico de Epsilon 4 se aproxima al de los espectrómetros XRF más potentes y de pie.