El PicoTR de NETZSCH mide la difusividad térmica de películas delgadas de 10 nm a 900 nm por termorreflectancia con pulsos láser de 0,5 ps.
Disponibilidad: este equipo se comercializa en Centroamérica, Argentina y Uruguay.
El PicoTR aplica el método de termorreflectancia en el dominio del tiempo (TDTR), un «laser flash» ultrarrápido para películas delgadas: un láser de bombeo calienta la muestra y un láser de sondeo registra la variación de reflectancia de la superficie. Determina difusividad térmica, coeficiente de penetración de calor y resistencia térmica de capas intermedias, en configuración de calentamiento posterior/detección frontal (RF) para sustratos transparentes o frontal/frontal (FF) para sustratos opacos. Fue desarrollado por PicoTherm (Japón), que se integró al grupo NETZSCH en 2020.
| Láser de bombeo | Ancho de pulso: 0.5 ps Longitud de onda: 1550 nm Diámetro del haz: 45 μm |
|---|---|
| Láser de sonda | Ancho de pulso: 0.5 ps Longitud de onda: 775 nm Diámetro del haz: 25 μm |
| Valores medidos | Difusividad térmica, efusividad térmica, resistencia térmica de interfase |
| Espesor de capa de la muestra (método RF) | Resina: 10 nm … 100 nm Cerámica: 10 nm … 300 nm Metal: 100 nm … 900 nm |
| Espesor de capa de la muestra (método FF) | Más de 100 nm |
| Sustrato | Material: opaco/transparente Tamaño: 10 … 20 mm cuadrado Espesor: 1 mm máx. |
| Difusividad térmica | Rango: 0.01 … 1000 mm²/s Exactitud: ± 6,2 % con 40 min de medición, para CRM 5808A en modo RF, espesor de 400 nm Reproducibilidad: ± 5% |
| Software | Cálculo de propiedades térmicas, análisis multicapa, base de datos |
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