VeOS

El VeOS de OBLF analiza los materiales metálicos de uso habitual por espectrometría de emisión óptica por chispa, con líneas de sensores de semiconductor que registran siempre el espectro completo. Según el fabricante, sus detectores tienen una superficie 100 veces más sensible a la luz que la de los detectores convencionales y alcanzan la resolución espectral de un espectrómetro de laboratorio. Admite aplicaciones de varias matrices sin restricciones en la selección de elementos e incluye la determinación de nitrógeno y de carbono en bajas concentraciones.

Características

• Óptica Paschen-Runge con círculo de Rowland de 500 mm, al vacío, refrigerada y estabilizada a ± 0,1 °C.
• Rango de longitud de onda de 130 a 700 nm según la ficha técnica.
• Fuente de excitación digital GDS III sin mantenimiento, con frecuencia de chispa de hasta 1 kHz.
• Soporte de chispa con autolimpieza patentada por pulsos y consumo aproximado de 3 L de argón por medición.
• Software OBLFwin con detección de muestras defectuosas, módulo de visualización de espectros y evaluación de chispas individuales opcional.
• Dimensiones de 74 × 134 × 115 cm (ancho × alto × profundidad) y peso aproximado de 300 kg.

• Entornos de producción, recepción de materiales y laboratorios de ensayo con tareas analíticas diversas.
• Control de producción y de calidad en la fabricación y el procesamiento de metales.
• Control de recepción de materiales.
• Investigación y desarrollo.
• Aprovechamiento de materias primas secundarias a base de hierro, níquel, cobalto, aluminio, cobre, magnesio, zinc, plomo o titanio.