El Tescan Tensor es un microscopio de transmisión por barrido (STEM) de última generación, diseñado específicamente para la caracterización avanzada en 4D-STEM. Permite obtener simultáneamente información estructural, cristalográfica y química a nanoescala, combinando la adquisición de patrones de difracción, espectros EDS y señales STEM en un mismo proceso de análisis.
Su arquitectura optimizada y su detector de electrones pixelado de alta velocidad facilitan la captura eficiente de grandes volúmenes de datos y su procesamiento prácticamente en tiempo real. La plataforma integrada de análisis permite extraer mapas de orientación, fase, deformación y densidad de defectos sin necesidad de complejas configuraciones manuales, lo que reduce significativamente los tiempos de trabajo y aumenta la productividad.
Incorpora además precesión electrónica (PED) para mejorar la precisión en la difracción y obtener resultados confiables en materiales sensibles como semiconductores, baterías, nanomateriales o metales ligeros. Gracias a sus modos configurables y mediciones automatizadas, el TENSOR puede ser utilizado tanto por expertos como por usuarios que se inician en STEM, ofreciendo un flujo de trabajo intuitivo y estable.
Su enfoque multimodal y su diseño centrado en la experiencia del usuario lo convierten en una plataforma ideal para laboratorios de investigación avanzada, centros científicos y entornos industriales orientados a innovación, control de calidad y análisis de fallas.
