SEM Soluciones

Tescan Mira

El TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones Schottky FEG es un SEM analítico de alta resolución para aplicaciones rutinarias de caracterización de materiales, investigación y control de calidad a escala submicrónica. Permite la instalación de detectores SE y BSE opcionales en la columna, incluida la tecnología de desaceleración del haz, para mejorar el rendimiento de imágenes a voltajes de aceleración bajos.
  • Alta resolución para caracterización avanzada
    Diseñado para aplicaciones rutinarias e investigación, permite una observación detallada de estructuras submicrométricas, ideal para control de calidad y desarrollo de materiales.

  • Excelente rendimiento a bajo voltaje
    Gracias a su tecnología de desaceleración del haz y detectores integrados en la columna, ofrece imágenes nítidas incluso a bajos voltajes de aceleración.

  • Plataforma analítica modular y flexible
    Se adapta a distintas necesidades mediante una amplia gama de detectores opcionales totalmente integrados, como CL, BSE refrigerado por agua y espectrómetro RAMAN.

  • Máxima versatilidad en análisis
    Desde geología hasta ciencia de materiales o electrónica, su configuración personalizable permite abordar una gran variedad de aplicaciones analíticas con precisión.

  • Fuente Schottky FEG de alto rendimiento
    Asegura una alta densidad de corriente, estabilidad del haz y una excelente calidad de imagen para tareas exigentes.
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