El Tescan Mira es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de emisión de campo Schottky (FE-SEM) diseñado para ofrecer imágenes de ultra-alta resolución y capacidades analíticas avanzadas en un equipo versátil y confiable. Es una solución ideal para laboratorios de investigación, control de calidad industrial, análisis de fallas, ciencia de materiales, metalurgia, geociencias, biotecnología y electrónica avanzada.
Su columna BrightBeam™ FE-SEM garantiza una excelente estabilidad del haz y una alta densidad de corriente incluso a bajas energías, permitiendo obtener imágenes detalladas en materiales sensibles sin degradación ni carga superficial. El diseño del sistema de detección multimodal —que incluye detectores de electrones secundarios y retrodispersados de geometría optimizada— ofrece un control superior sobre el contraste topográfico y composicional, permitiendo diferenciar fases, composiciones y estructuras con gran precisión.
Equipado con el software TESCAN Essence™, MIRA proporciona una interfaz unificada que integra SEM e instrumentos analíticos como EDS, WDS, EBSD, CL o Raman, facilitando un flujo de trabajo eficiente y reduciendo la necesidad de cambiar entre aplicaciones externas. La tecnología In-Flight Beam Tracing™ optimiza automáticamente los parámetros del haz y garantiza condiciones ideales de operación, acortando significativamente el tiempo de preparación del análisis.
El TESCAN MIRA también ofrece un sistema de navegación intuitiva Wide Field Optics™, que permite visualizar rápidamente áreas amplias de la muestra desde aumentos muy bajos, lo que facilita la orientación en superficies extensas y acelera la localización de regiones específicas para análisis detallados. Su cámara espaciosa y plataforma motorizada de múltiples ejes permiten la inspección de muestras grandes y heterogéneas.
Diseñado tanto para usuarios expertos como principiantes, el sistema incorpora herramientas de automatización inteligente, alineaciones automáticas y protecciones de movimiento mediante modelos de colisión tridimensionales, garantizando una operación segura y productiva.
El resultado es una plataforma robusta y moderna, enfocada en la productividad y la reproducibilidad, capaz de combinar imágenes SEM de ultra-alta calidad con análisis químico y estructural profundo.
