Análisis elemental

GDS950

Espectrómetro de emisión atómica de descarga luminiscente con rango ampliado El GDS950 de LECO es un espectrómetro de emisión atómica por descarga luminiscente diseñado para la determinación elemental precisa y el perfilado de profundidad de composición en una amplia gama de materiales sólidos, tanto conductores como no conductores. Equipado con el software intuitivo Cornerstone, ofrece facilidad de uso, informes simplificados y tiempos de análisis optimizados, mejorando la eficiencia en el laboratorio. Nuestro espectrómetro de descarga luminiscente (GDS) GDS950 ofrece tecnología ultramoderna diseñada específicamente para la determinación elemental de rutina y el perfilado de profundidad de composición en la mayoría de las matrices sólidas eléctricamente conductoras y no conductoras. La plataforma incluye Software Cornerstone de marca de uso fácil para mayor facilidad de uso, informes simplificados y tiempos de análisis optimizados, lo que le ahorrará tiempo en su laboratorio.

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El GDS950 de LECO es un espectrómetro de emisión atómica por descarga luminiscente diseñado para la determinación elemental precisa y el perfilado de profundidad de composición en una amplia gama de materiales sólidos, tanto conductores como no conductores. Equipado con el software intuitivo Cornerstone, ofrece facilidad de uso, informes simplificados y tiempos de análisis optimizados, mejorando la eficiencia en el laboratorio.

La fuente de descarga luminiscente trae una serie de ventajas que incluyen:

  • Calibraciones simples y lineales en comparación con otras fuentes
  • Excitación controlada que se produce lejos de la superficie de la muestra
  • Reducción del consumo de material de referencia
  • La limpieza automática entre análisis ahorra tiempo y minimiza los efectos de matriz para un mayor rendimiento analítico

El sistema de detección garantiza estabilidad, flexibilidad y rendimiento, con las siguientes especificaciones:

  • Cobertura de longitud de onda completa de 120 nm a 460 nm
  • Resolución de 30 pm (0,030 nm) para diferenciar incluso las características más complejas de los espectros en total

Se dispone de soporte opcional para análisis CDP.

  • Perfil de profundidad de composición de muestras conductoras eléctricas sólidas
  • Ideal para enchapado, galvanizado, revestimiento y otros tratamientos de superficies conductoras

El software Cornerstone proporciona análisis y creación de informes simplificados.