- Rendimiento analítico mejorado.
- Mejoras de potencia de 1 a 2.4, 3 o 4 kW para una sensibilidad mejorada.
- Gama de materiales anódicos para tubos de rayos X Rh, Cr, Mo y Au para un rendimiento de aplicación específico.
- Detector dúplex para una mayor sensibilidad y un rango dinámico más amplio para el análisis de metales de transición.
- Detector de centelleo HiPer para mayor rango dinámico para elementos pesados (lineal hasta 3.5 Mcps) ideal para análisis de alta precisión de Nb y Mo en aceros.
- Experiencia de usuario superior.
- Software simple e intuitivo con The Virtual Analyst.
- Conjunto completo de módulos de configuración de aplicaciones y soluciones de software Análisis XRF sin estándares líder en la industria con Omnian: análisis de incógnitas o cuando los estándares no están disponibles.
- Análisis de puntos pequeños de múltiples elementos con mapeo.
- Máscaras de colimador programables para tamaños de muestra entre 6 mm y 37 mm.
- Tecnología SumXcore: tiempos de medición reducidos hasta en un 50% con un núcleo ED.
- Actualizaciones de potencia de 1 a 2.4, 3 o 4 kW para tiempos de análisis más rápidos.
- Canales Hi-Per para la medición simultánea de elementos ligeros. Cambiador de muestras de alta capacidad (hasta 209 posiciones) para aplicaciones de alto rendimiento. El dispositivo de eliminación de polvo minimiza la contaminación y maximiza el tiempo de actividad del instrumento.
- Revestimiento de ventana de tubo de rayos X CHI-BLUE para una mayor durabilidad del tubo de rayos X y resistencia a la corrosión.
